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美國MAS高分辨納米粒度儀

簡要描述：美國MAS高分辨納米粒度儀高分辨率粒度分布（PSD）測量新的技術(shù)，包括顆粒檢測高靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。

產(chǎn)品型號(hào)：CHDF3000型
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-06-18
訪問量：3482

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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	測量時(shí)間	1-10min秒
分辨率	大于0.1nm微米	測量范圍	5nm-100μm微米
重現(xiàn)性	<1%	分散方式	濕法分散
價(jià)格區(qū)間	100萬-150萬	儀器種類	動(dòng)態(tài)光散射
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油

　　美國MAS高分辨納米粒度儀

　　新的 CHDF 3000 提供：

　　1】高分辨率粒度分布(PSD)測量的新的技術(shù)，包括顆粒檢測高靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。

　　2】粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。

　　3】精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。

　　4】自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。

　　美國MAS

　　應(yīng)用科學(xué)公司的新 CHDF3000 系統(tǒng)，在高分辨率粒度分布(PSD)分析方面有*新的進(jìn)展。CHDF3000 使用毛細(xì)管流體動(dòng)力分餾(CHDF)技術(shù)按大小分離顆粒。架構(gòu)于光散射儀器、主要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的 PSD 產(chǎn)生(見下文)。相反，CHDF3000在 5 納米到 3 微米范圍內(nèi)提供完整、真實(shí)、詳細(xì)的 PSD 數(shù)據(jù)。接下來將介紹CHDF3000 的一些優(yōu)勢亮點(diǎn)。

美國MAS高分辨納米粒度儀

　　優(yōu)勢：

　　毛細(xì)流體動(dòng)力分餾：詳細(xì) PSD 數(shù)據(jù)、廣泛多樣 PSD 準(zhǔn)確報(bào)告

　　寬動(dòng)態(tài)范圍檢測：在主要粒子群中，對次要粒子群進(jìn)行大動(dòng)態(tài)范圍檢測

　　可靠性高的和簡易操作：質(zhì)量控制/研發(fā)/在線使用

　　v全面的粒度分布數(shù)據(jù)報(bào)告

　　v連續(xù)監(jiān)測/控制所有測量數(shù)據(jù)：與泵、紫外線檢測器和自動(dòng)采樣器串聯(lián)

　　v占地面積小

　　v其他

　　自動(dòng)取樣器/無人值守分析

　　樣品量： 10%的高分辨率能力

　　適用于非均勻成分樣品、獨(dú)立顆粒密度

　　樣品量： < 1 ml (v)

　　10 分鐘

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