顆粒表面Zeta電位的大小是表征懸浮液和膠體穩(wěn)定性的重要參數(shù)。當(dāng)Zeta電位較高時，粒子之間表現(xiàn)為排斥力大于吸引力，粒子傾向于分散，體系比較穩(wěn)定；當(dāng)Zeta電位較低時，粒子之間表現(xiàn)為排斥力小于吸引力，粒子傾向于團(tuán)聚，體系穩(wěn)定性被破壞。

　　測量動態(tài)光散射（DLS）（也被稱為準(zhǔn)彈性光散射（QELS））的技術(shù)。其他DLS技術(shù)包括頻率分析和互相關(guān)函數(shù)。以懸浮在液體中并由相干光源照亮的微粒所散射的光的強(qiáng)度來測量時間依賴波動納，米級微粒特征描述所采用的主要技術(shù)。

　　電位溶出分析法包括兩個獨(dú)立而又有聯(lián)系的過程，即富集過程和溶出過程，溶出又有氧化溶出和還原溶出之分。在氧化溶出時，富集電位控制在被測離子還原電位更負(fù)一些的電位上，使金屬離子還原生成汞齊而富集于電極表面。電解富集一定時間后，斷開恒電位電路，借助氧化劑（溶解氧或Hg（I）等）的氧化作用使電極表面的汞齊化金屬氧化成離子進(jìn)入溶液中，即為溶出過程。

　　電聲法zeta電位分析儀特點(diǎn)如下：

　　■超寬動態(tài)光散射測量范圍：0.3~8000nm；

　　■可測納米粒子的三個重要要素：粒子直徑、Zeta電位和分子量；

　　■樣品濃度從ppm到百分之幾十，都能在原液狀態(tài)下取樣和測定；

　　■微量電泳樣品池，可以測定僅100ul的Zeta電位；

　　■廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、機(jī)能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定；

　　■取樣后，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單。

　　電聲法zeta電位分析儀可廣泛應(yīng)用于生化、臨床分析、衛(wèi)生防疫、環(huán)境監(jiān)測、地質(zhì)、冶金、化工、農(nóng)業(yè)、科研等領(lǐng)域中的痕量分析。